Image SXM ist eine Version der Public-Domain-Bildanalysesoftware NIH Image, die um das Laden, Anzeigen und Analysieren von Scanmikroskopbildern erweitert wurde. Image SXM unterstützt SAM-, SCM-, SEM-, SFM-, SLM-, SNOM-, SPM- und STM-Bilder aus den folgenden Systemen: Asylum-Forschung, Burleigh-Instrumente, digitale Instrumente NanoScope II-III-IV, DME-Rasterscope, DME-Flächendaten-Datei, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomik, Leica LIF, Leica TCS, LEO REM, Molecular Imaging PicoScan, Nanomagnet-Instrumente SPMSIF, Nanonics Imaging, Nanonis, Nanosurf easyScan, Nanotec Electronica WSxM, Noran Instruments Vantage, NT -MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instruments TOPSystem, Park Scientific Instrumente HFS-LIF, Park Scientific Instrumente HDF, Philips SEM, Quesant Instrumente, RHK Technologie SPM-32, RHK Technologie XPM Pro, Seiko Instruments (SIINT) SPI, SPECS STM Aarhus, ThermoMikroskope, TopoMetrix SPMLab, Unisoku, Vakuumgeneratoren SAM, Veeco Innova, WA Technologie, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM.
Was ist neu in dieser Version:
- Das Einschränken von ROIs auf Zweierpotenz, um FFT-Operationen zu ermöglichen, funktioniert jetzt durch Drücken der Tabulatortaste
- Änderungen an der 'Bacterial MicroCompartments' Analyse
Was ist neu in Version 197:
- Das Einschränken von ROIs auf Zweierpotenz, um FFT-Operationen zu ermöglichen, funktioniert jetzt durch Drücken der Tabulatortaste
- Änderungen an der 'Bacterial MicroCompartments' Analyse
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